0287 未知的铁晶体构型！

现不了它的断口！区区一件金属加工品，又不是半导体晶圆……”

所谓的高角度环形暗场成像系统，是扫描透射电子显微镜的一个核心功能，可以通过发射电子枪（FEG）产生极细的电子探针扫描样品的表面。

这种技术理论上的分辨率可以做到

0.05–0.1纳米，足以分辨大多数元素的原子间距。

通常这种技术都是被应用在半导体领域或者物理研究当中，很少会用在机械加工领域制品的分析。

毕竟半导体的晶圆成分里的硅（Si）晶体中原子间距才达到0.23

nm，恰好就在这套成像系统的检测范围内。

可是，当几个助手兴致勃勃地开启高角度环形暗场成像系统，对着这件竹蜻蜓里里外外扫描了一圈后。

那电脑渲染画面上呈现的样品表面结构，却让在场的所有人都脑浆沸腾了起来！

密密麻麻的单质铁（Fe）元素排列出的密集阵列结构，犹如一道难以攻克的知识壁垒一样，对这人均博士学位的橡树岭国家实验室研究员们形成了降维打击！

那有别于人类已知的任何一种铁晶体结构，更是让阿斯利康教授见鬼一般狂抓自己杂乱的头发惊叫了起来。

“No

way！”

“眼前这种晶体构型既不是α-Fe的体心立方，也不是奥氏体母相γ-Fe的面心立方，甚至不是δ-Fe体心立方！”

“这是数据库里不存在的一种全新的铁晶体构型！”

“这种级别的冶炼技术……还有这不

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